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1、数据精确性：公司的专有信号处理算法可提供极其精确和可靠的评估。
2、该设备可利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。
3、超声显微镜，ultrasonic microscope，利用样品声学性能的差别，用声成像的方法来生成高反差、高放大倍率的超声像的装置。
4、扫描电子显微镜分析：扫描电子显微镜（SEM）是进行失效分析的一种最有用的大型电子显微成像系统，其工作原理是利用阴极发射的电子束经阳极加速。
5、TEM)扫描电子显微镜(SEM)场离子显微镜(FIM)其他的还有：高压电子显微镜(HVEM)、分析电子显微镜(AEM)、场发射电子显微镜(FEEM)、声学显微镜(AM)、扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)电子显微镜差不多就这些了 。
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