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技术丨详解三大硅碳负极包覆结构(6)

2018-07-22 19:02:40 网络整理 阅读:90 评论:0

该材料在1A/g电流密度下循环200次后容量保持在1459mA·h/g,远高于纯硅;在12.8A/g高电流密度下的比容量仍可达到700mA·h/g,表现出优异的倍率性能。此外,该材料振实密度大(0.78g/cm3),体积比容量高,在400mA/g电流密度下充放电循环50次,容量保持在1326mA·h/cm3。

进一步研究发现,通过调节反应温度对硅一次粒子粒径进行优化,其中一次粒子为15nm时多孔硅碳复合材料性能最优,在400mA/g电流密度下循环100次后容量可达1800mA·h/cm3,,远高于一次粒子粒径为30nm和80nm的复合材料。这主要是由于硅一次粒子粒径越小,脱嵌锂时体积变化越小,因而能够形成更为稳定的SEI膜。

另外,对碳化温度和时间进一步优化发现,碳化温度800℃、碳负载质量分数20%时的多孔硅/碳复合材料性能最佳,在1.2A/g电流密度下循环600次后的容量保持在1200mA·h/g,几乎无容量损失,且Coulomb效率高达99.5%。

该多孔硅碳复合材料合成工艺成本低,易于规模化生产。

近来,Lu等设计并合成了一种特殊结构的碳包覆多孔硅材料(nC–pSiMPs),其中,多孔微米硅(pSiMPs)由一次硅纳米颗粒堆积而成,其内部硅纳米颗粒表面无碳包覆层,碳层仅涂覆于微米多孔硅外表面。

该材料是以商业化SiO微粒为原料,以间苯二酚–甲醛树脂为碳源,在Ar气氛下高温碳化处理得到碳包覆层,同时内核SiO经高温歧化反应生成Si和SiO2,HF刻蚀后得到硅与空腔的体积比为3:7的多孔硅。

该结构中,空腔尺寸能够很好的容纳硅在脱嵌锂时的体积变化而不使碳壳层破裂,保证了材料结构的稳定性;同时,包覆于多孔硅外表面的碳壳层能阻止电解液浸入多孔硅内部,减少硅与电解液的接触面积,仅在微米硅外表面碳包覆层上形成稳定的SEI膜。

相应地,对于内部硅纳米颗粒也包覆碳层的材料(iC-pSiMP),电解液与活性物质接触面积更大,同时硅体积膨胀易导致碳层破裂,内部硅纳米颗粒..并与电解液接触,导致充放电循环过程中产生更厚的SEI膜。

因而,nC-pSiMPs电极(活性物质负载量为0.5mg/cm2)较iC-pSiMP和pSiMP具有更优异的循环稳定性,在1/4C(1C=4.2A/g活性物质)循环1000次时可逆容量高达1500mA·h/g。

此外,该电极材料经100次循环后,厚度从16.2μm增至17.3μm,膨胀率仅为7%,其体积比容量(1003mA·h/cm3)也远高于商业化石墨(600mA·h/cm3)。

来源:由锂电联盟会长整理于高工锂电,BTR报告,BAK报告,SJ报告

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